Delcom 線上型多點量測系統
Delcom 線上型多點量測系統的渦電流非接觸式量測優勢
Delcom Inline Multisensor System 採用渦電流方式進行非接觸式表面電阻量測，可作為卷對卷材料、玻璃鍍膜、面板、晶圓、鍍膜材料與多點製程監控的電性量測方向。實際導入仍需依產線寬度、材料厚度、導電層位置、感測器數量、量測速度與現場設備條件確認。
渦電流量測表面電阻的技術優勢
非破壞性量測；非接觸式檢測；可評估穿過絕緣層量測至導電層；可量測移動中的樣品；近乎即時的數據量測；可作為線上品質監控檢查方向。
降低產品損傷與人工檢測成本
可評估全自動量測流程；減少手動量測需求；可降低待測物表面損傷風險；協助發現鍍層相關問題；降低不合格材料進入後續製程的風險。
導入提醒：若線上型多點量測系統需整合至既有產線、卷對卷設備、鍍膜設備或多點檢測流程，建議先確認材料種類、基材厚度、導電層位置、預估 ohm/sq 範圍、量測點數、感測器安裝空間、線速、通訊介面與資料紀錄需求，再評估合適的感測器與系統配置。
Delcom 線上型多點量測系統適用產業與材料
Delcom Inline Multisensor System 可作為線上製程監控、多點位置差異追蹤與非接觸式表面電阻量測的整合方向，常見應用包含顯示器、太陽能、半導體、Low-E 玻璃、智能玻璃、精密光學、能源元件、印刷電子、軟性電子、屏蔽材料與包裝材料等。實際導入仍需依產線寬度、材料厚度、導電層位置、表面狀態、預估 ohm/sq 範圍、量測點數、感測器安裝空間與製程流程確認。
顯示器與透明導電材料
FPD；平面顯示器；觸控面板；TCO；ITO / TCM；LED / OLED；CNT；Graphene；Ag nanowire；Metal mesh。
太陽能光電材料
薄膜太陽能；非晶矽；CIGS；CdTe；矽晶太陽能；三五族太陽能。
半導體與晶圓製程
矽晶棒 Ingot；晶塊特性檢測；晶圓特性檢測；WLP；PLP；FOPLP。
建築玻璃與 Low-E 鍍膜
Low-E 玻璃；軟鍍式 soft coated；硬鍍式 hard coated；鍍層玻璃；玻璃導電層。
智能玻璃、車用與航太玻璃
EC 電致變色玻璃；熱致變色玻璃；光致變色玻璃；PDLC 玻璃；SPD；TMSM；防眩光；除霜；加熱；反光；後視鏡。
精密光學與光學鍍膜
精密光學；光學鍍膜；光學薄膜；導電鍍層；鏡面材料；特殊光學材料。
航太與國防材料
航太與國防用座艙罩；航太光學；低可見性材料；太空船熱控制材料；太陽帆。
能源設備與儲能材料
電池單元；電池堆疊；能源儲存；燃料電池元件。
導電墨水與印刷電子
印刷電子；導電墨水；金屬導線；有機導線。
軟性電子、加熱與天線
軟性電子；軟性電路；軟性 PCB；天線；RFID；加熱設備；薄膜加熱器；屏蔽材料。
EMI / RF 與金屬化材料
EMI 屏蔽；RF 屏蔽；鍍金屬電容器箔片；鍍金屬薄膜。
轉換加工與包裝材料
微波吸收材料；阻隔膜；裝飾性薄膜；鍍金屬標籤；織物與纖維；技術性織物；碳纖維編織物；碳纖維。
特殊塗層與其他材料
反光安全材料；醫療成像材料；高性能塗層；抗靜電薄膜；LED；導電纖維；紡織品；氈與編織物；奈米線；網格材料；粉末；鍍層聚合物；導電油漆；R2R 塗層；玻璃；晶圓；薄膜。
應用提醒：上述產業與材料可作為 Delcom 線上型多點量測系統的初步評估方向。若需整合至卷對卷製程、鍍膜設備、多點固定量測或線上品管監控，建議先提供材料種類、基材厚度、導電層位置、預估電阻範圍、線速、幅寬、量測點數、感測器安裝空間、通訊介面與資料紀錄需求，再評估是否適用。
Delcom Inline Multisensor System 線上型多點量測系統規格
以下規格可作為 Delcom Inline Multisensor System 線上型多點非接觸式表面電阻量測系統的初步參考。實際配置仍需依產線寬度、樣品厚度、導電層位置、感測器數量、感測器間距、量測尺寸、預估 ohm/sq 範圍與資料整合需求確認。
| 型號 | Inline Multisensor System |
|---|---|
| 可量測數據類型 | 表面電阻 ohm/sq 表面電導率 Siemens/Square 體積電阻率 ohm-cm 厚度 micro meter 使用者定義的發射率介於 0 和 1 之間 |
| 感應器及平台尺寸 | 感測器形式：雙面感測器 平台尺寸：N/A 任意點可量測尺寸：可客製化 感測器直徑：直徑 26 mm–140 mm 感測器上下間距：3 mm–16 mm 感測器至樣品距離補償範圍：N/A 感測器量測尺寸：直徑 26 mm–140 mm |
| 量測範圍 | ×10：5–100,000 ohms/square ×1：0.5–10,000 ohms/square ÷10：0.05–1,000 ohms/square ÷100：0.005–100 ohms/square |
| 樣品材料要求 | 厚度最小限制：無限制 厚度最大限制：可調 最小尺寸：直徑 26 mm 最大尺寸：可客製化 |
介面架構
規格提醒：Inline Multisensor System 需依現場產線條件評估，包含感測器數量、感測器位置、感測器間距、量測點尺寸、材料幅寬、線速、資料輸出格式與通訊介面。若需整合至卷對卷製程、鍍膜設備或多點線上品管監控，建議先提供樣品與產線資訊後再確認可行配置。
Delcom Inline Multisensor System 量測性能與穩定性
Delcom Inline Multisensor System 可用於卷對卷材料、玻璃鍍膜、面板、晶圓、鍍膜材料與多點製程監控的非接觸式表面電阻量測。以下資訊可作為量測性能初步參考，實際表現仍需依感測器數量、感測器位置、樣品條件、量測距離、環境溫度、校正方式與製程流程確認。
響應率與顯示率
Delcom 每 30 ms 對樣品材料進行一次測量，硬體與軟體進行平均處理，每 240 ms 顯示 8 個平均讀數，可作為快速回饋與線上製程監控的評估方向。
精確度與校正
Delcom 儀表依據美國國家標準與技術研究所 NIST 標準進行校正，使用者可依標準片與操作流程進行校正設定。實際量測結果仍需依樣品條件、校正狀態、感測器安裝位置與量測距離確認。
解析度與量程範圍
每個有效位數在四個量程範圍中皆可表示，可依感測器配置、樣品阻抗範圍、量測點尺寸與實際檢測目的進行判讀。
線性與標準片比較
Delcom 儀器可依 NIST、VLSI 與 MSA 等標準片進行片電阻比對。線性表現仍需依標準片狀態、量測距離、校正方式、感測器配置與環境條件確認。
重複性
若樣品位置、感測器間距、量測距離、材料移動條件與環境因素如溫度維持穩定，讀數重複性可作為評估量測穩定性的參考。實際重複性仍需依現場設備與製程條件確認。
溫度補償
渦電流儀器的基準讀數可能隨環境溫度變化而漂移。Delcom 感測器具備溫度補償設計，可降低溫度變化對長時間量測穩定性的影響。
量測距離對讀數的影響
導電層在感測器間距中的高度會影響儀器讀數。此影響可依需求透過平台固定、距離感測器自動補償，或將儀器校準至已知高度材料的方式進行調整。若系統需整合至卷對卷製程、鍍膜設備或多點線上品管監控，建議先確認樣品厚度、導電層位置、材料移動方式、感測器安裝空間與量測距離。
導入提醒：若應用包含卷對卷材料、多點量測、玻璃鍍膜、多層結構、移動中樣品或導電層位於絕緣層下方，建議先確認材料厚度、導電層位置、感測器數量、感測器間距、預估 ohm/sq 範圍、量測速度與資料輸出需求，再評估 Delcom Inline Multisensor System 是否符合檢測流程。
Delcom Inline Multisensor System 軟體與資料分析功能
Delcom Inline Multisensor System 可搭配 PC 軟體、Python 函式庫與系統整合需求進行量測、資料記錄、Mapping、Pass / Fail 判定與線上製程監控。實際功能仍需依感測器數量、安裝位置、軟體版本、通訊方式與現場資料流程確認。
軟體與開發介面
PC 應用程式；Windows 環境評估；Python 函式庫；自訂資料擷取；線上製程資料整合。
可選擇的量測單位
表面電阻 ohm/sq；表面電導率 Siemens/Square；體積電阻率 ohm-cm；厚度 micro meter；使用者定義發射率 0–1。
常見量測與分析模式
樣品測試；數據取得；掃描 Mapping；均勻性分析；上下限判定；Pass / Fail 判定。
數據記錄、分析與匯出
CSV 匯出；Microsoft Excel 記錄；手動掃描；.csv 檔案；數據保存；後續分析；品管紀錄。
多組感測器應用
多點量測；多組探頭；不同阻抗範圍；多材料應用；製程條件比較；跨幅位置差異監控。
使用者可調整參數
標準片校正；Vertical offset；Tare offset；Gain offset；Pass / Fail 閾值；警報設定；溫度補償係數。
自動化輔助功能
自動歸零；自動樣品感應檢測；自動量測數據記錄；資料流程建立；線上製程監控；多點品管分析。
導入提醒：若需要將 Delcom Inline Multisensor System 量測資料串接至內部資料庫、MES、SPC、報表系統或自動化設備，建議先確認資料格式、通訊方式、感測器數量、量測節拍、Pass / Fail 判定規則、資料紀錄方式與現場 IT / OT 架構，並由工程師進一步評估開發。
Delcom Inline Multisensor System 感測器範圍、Python 介面與客製化量測配置
Delcom Inline Multisensor System 可依產線寬度、材料電阻範圍、感測器數量、量測點位置、感測器間距與資料整合需求，評估感測器範圍擴充、Python 函式庫整合、客製化感測器間距，以及額外感測器與真空應用感測器等選配配置。實際配置仍需依樣品材料、導電層位置、預估 ohm/sq 範圍、量測距離、線速與現場設備條件確認。
增加感測器量測範圍
Delcom 感測器出貨時可搭配任意兩個相鄰範圍，若需涵蓋更完整的量測區間，可依材料阻抗條件與製程監控需求評估額外感測器配置。
Python 函式庫自訂介面
可使用 Delcom Python 函式庫構建自訂介面，讓感測器監控、量測控制與資料處理依客戶流程進行規劃。若需串接內部系統或自動化流程，建議由工程師評估資料格式與開發需求。
客製化感測器間距與量測尺寸
可依樣品厚度、導電層位置、產線空間與量測需求，評估客製化感測器間距與量測尺寸。一般而言，所需間距越大，感測器量測尺寸也可能相對增加，實際配置需依樣品與產線條件確認。
選配增加額外感測器
IM100 介面模組可依需求評估額外感測器配置，用於更大的量測範圍、較大或較小的感測器間距，或不同形狀與尺寸的感測器選擇。
選配真空應用感測器
若應用環境包含真空、鍍膜設備或特殊製程條件，可依實際需求評估真空應用感測器。相關配置需依安裝空間、樣品條件、量測距離、設備環境與資料輸出需求進一步確認。
選型提醒：若 Delcom Inline Multisensor System 需搭配額外感測器、真空應用感測器或 Python 自訂介面，建議先提供材料種類、基材厚度、導電層位置、預估 ohm/sq 範圍、線速、幅寬、量測點數、感測器安裝空間、資料輸出需求與現場設備條件，再評估合適的感測器範圍與客製化配置。