Delcom S3 非接觸式表面電阻量測

Delcom S3 Hybrid 非接觸式表面電阻量測系統採用渦電流量測方式,可用於表面電阻、表面電導率、體積電阻率、厚度與發射率等材料電性量測需求。S3 適合需要在桌上型測試、樣品驗證與製程導入評估之間取得彈性的應用情境,可應用於半導體、面板、太陽能材料、導電薄膜、ITO、TCO、玻璃鍍膜與多層結構材料等檢測方向。實際選型仍需依樣品厚度、導電層位置、表面狀態、預估 ohm/sq 範圍與檢測流程確認。官網目前列出 S3 Hybrid 可量測表面電阻、表面電導率、體積電阻率、厚度與使用者定義發射率等資料類型。

Eddy Current Measurement

Delcom S3 渦電流非接觸式表面電阻量測優勢

Delcom S3 Hybrid 採用渦電流方式進行非接觸式表面電阻量測,可應用於導電薄膜、鍍膜材料、多層結構材料與移動中樣品的初步評估。實際適用性仍需依樣品厚度、導電層位置、表面狀態、預估 ohm/sq 範圍與檢測流程確認。

渦電流量測表面電阻的優勢

非破壞性量測;非接觸式檢測;可評估穿透絕緣層量測至導電層;可即時量測移動中的樣品;可作為品質監控檢查方向。

降低樣品損傷與人工檢測負擔

不破壞待測物表面;可協助發現鍍層相關問題;量測速度可依應用條件評估;可降低不合格材料進入後續製程的風險。

導入提醒:若樣品包含絕緣層、鍍膜層、多層結構或移動中材料,建議先確認導電層位置、材料厚度、表面狀態、量測速度、資料輸出方式與品管判定規則,再評估 Delcom S3 是否符合檢測需求。


Application Industries

Delcom S3 非接觸式表面電阻量測適用產業與材料

Delcom S3 Hybrid 可作為導電薄膜、鍍膜材料、多層結構材料與移動中樣品的非接觸式表面電阻量測評估方向,常見應用包含顯示器、太陽能、半導體、Low-E 玻璃、智能玻璃、精密光學、航太國防、能源元件、印刷電子、軟性電子與包裝材料等。實際適用性仍需依樣品厚度、導電層位置、表面狀態、預估 ohm/sq 範圍與檢測流程確認。

顯示器與透明導電材料

FPD;平面顯示器;觸控面板;TCO;ITO / TCM;LED / OLED;CNT;Graphene;Ag nanowire;Metal mesh。

太陽能光電材料

薄膜太陽能;非晶矽;CIGS;CdTe;矽晶太陽能;三五族太陽能。

半導體與晶圓製程

矽晶棒 Ingot;晶塊特性檢測;晶圓特性檢測;WLP;PLP;FOPLP。

建築玻璃與 Low-E 鍍膜

Low-E 玻璃;軟鍍式 soft coated;硬鍍式 hard coated;鍍層玻璃;玻璃導電層。

智能玻璃、車用與航太玻璃

EC 電致變色玻璃;熱致變色玻璃;光致變色玻璃;PDLC 玻璃;SPD;TMSM;防眩光;除霜;加熱;反光;後視鏡。

精密光學與光學鍍膜

精密光學;光學鍍膜;光學薄膜;導電鍍層;鏡面材料;特殊光學材料。

航太與國防材料

航太與國防用座艙罩;航太光學;低可見性材料;太空船熱控制材料;太陽帆。

能源設備與儲能材料

電池單元;電池堆疊;能源儲存;燃料電池元件。

導電墨水與印刷電子

印刷電子;導電墨水;金屬導線;有機導線。

軟性電子、加熱與天線

軟性電子;軟性電路;軟性 PCB;天線;RFID;加熱設備;薄膜加熱器;屏蔽材料。

EMI / RF 與金屬化材料

EMI 屏蔽;RF 屏蔽;鍍金屬電容器箔片;鍍金屬薄膜。

轉換加工與包裝材料

微波吸收材料;阻隔膜;裝飾性薄膜;鍍金屬標籤;織物與纖維;技術性織物;碳纖維編織物;碳纖維。

特殊塗層與其他材料

反光安全材料;醫療成像材料;高性能塗層;抗靜電薄膜;LED;導電纖維;紡織品;氈與編織物;奈米線;網格材料;粉末;鍍層聚合物;導電油漆;R2R 塗層;玻璃;晶圓;薄膜。

應用提醒:上述產業與材料可作為 Delcom S3 Hybrid 非接觸式表面電阻量測的初步評估方向。若樣品包含多層結構、絕緣層下方導電層、移動中材料或製程端量測需求,建議先提供樣品材料、厚度、導電層位置、預估電阻範圍與資料輸出需求,再評估是否適用。


Specification

Delcom S3 Hybrid 非接觸式表面電阻量測規格

以下規格可作為 Delcom S3 Hybrid 非接觸式表面電阻量測系統的初步參考。實際選型仍需依樣品材料、厚度、導電層位置、表面狀態、預估 ohm/sq 範圍與檢測流程確認。

型號S3 Hybrid
可量測數據類型
表面電阻 ohm/sq
表面電導率 Siemens/Square
體積電阻率 ohm-cm
厚度 micro meter
使用者定義的發射率介於 0 和 1 之間
感應器及平台尺寸
感測器形式:單邊感測器
平台尺寸:N/A
任意點可量測尺寸:無限制
感測器直徑:直徑 26 mm
感測器間距:N/A
感測器至樣品距離補償範圍:0–1 mm
感測器量測尺寸:直徑 26 mm
量測範圍
×10:5–100,000 ohms/square
×1:0.5–10,000 ohms/square
÷10:0.05–1,000 ohms/square
÷100:0.005–100 ohms/square
樣品材料要求
厚度限制:無限制
最小尺寸:直徑 26 mm
最大尺寸:無限制
電力及溫度要求
電源輸入:100–120 / 200–250 VAC
頻率:60 / 50 Hz
耗電量:1.0 / 0.5 A
溫度範圍:10°C–60°C

介面架構

Delcom S3 Hybrid 非接觸式表面電阻量測系統介面架構圖,適用表面電阻與導電材料量測

規格提醒:上述資料為 S3 Hybrid 產品頁規格整理,實際量測表現仍需依樣品條件、量測距離、環境溫度、校正方式與品管流程確認。若樣品包含多層結構、絕緣層下方導電層或動態量測需求,建議先提供樣品資訊後再確認適用配置。


Measurement Performance

Delcom S3 非接觸式表面電阻量測性能與穩定性

Delcom S3 Hybrid 可用於導電薄膜、鍍膜材料、多層結構材料與移動中樣品的非接觸式表面電阻量測。以下資訊可作為量測性能初步參考,實際表現仍需依樣品條件、環境溫度、量測距離、校正方式與品管流程確認。

響應率與顯示率

Delcom 每 30 ms 對樣品材料進行一次測量,硬體與軟體進行平均處理,每 240 ms 顯示 8 個平均讀數,可作為快速回饋與製程監控的評估方向。

精確度與校正

Delcom 儀表依據美國國家標準與技術研究所 NIST 標準進行校正,使用者可依標準片與操作流程進行校正設定。實際量測結果仍需依樣品條件與校正狀態確認。

解析度與量程範圍

每個有效位數在四個量程範圍中皆可表示,可依感測器配置、樣品阻抗範圍與實際檢測目的進行判讀。

線性與標準片比較

Delcom 儀器可依 NIST、VLSI 與 MSA 等標準片進行片電阻比對。線性表現仍需依標準片狀態、量測距離、校正方式與環境條件確認。

重複性

若樣品放置、量測距離與環境因素如溫度維持穩定,讀數重複性可作為評估量測穩定性的參考。實際重複性仍需依現場量測條件確認。

溫度補償

渦電流儀器的基準讀數可能隨環境溫度變化而漂移。Delcom 感測器具備溫度補償設計,可降低溫度變化對長時間量測穩定性的影響。

量測距離對讀數的影響

導電層在感測器間距中的高度會影響儀器讀數。此影響可依需求透過平台固定、距離感測器自動補償,或將儀器校準至已知高度材料的方式進行調整。若樣品厚度、曲率或導電層位置差異較大,建議先提供樣品資訊後確認合適的量測配置。

Delcom S3 非接觸式表面電阻量測解析度與量程範圍圖表
解析度與量程範圍
Delcom S3 非接觸式表面電阻量測線性測試與標準片比較圖
線性與標準片量測比較
Delcom S3 非接觸式表面電阻量測距離對讀數影響示意圖
量測距離對讀數的影響

導入提醒:若應用包含移動中樣品、捲對捲材料、多層結構、玻璃鍍膜或導電層位於絕緣層下方,建議先確認材料厚度、導電層位置、感測器間距、預估 ohm/sq 範圍、量測速度與資料輸出需求,再評估 Delcom S3 是否符合檢測流程。


Software Functions

Delcom S3 桌上型軟體與資料分析功能

Delcom S3 Hybrid 可搭配 PC 軟體進行量測、Mapping、資料匯出與 Pass / Fail 判定,適合樣品測試、研發驗證、品管分析與製程導入前評估。實際功能仍需依機型配置、感測器數量、軟體版本與資料流程確認。

桌上型軟體與開發介面

PC 應用程式;Windows 環境評估;Python 函式庫;自訂資料擷取;系統整合。

可選擇的量測單位

表面電阻 ohm/sq;表面電導率 Siemens/Square;體積電阻率 ohm-cm;厚度 micro meter;使用者定義發射率 0–1。

常見量測與分析模式

樣品測試;數據取得;掃描 Mapping;均勻性分析;上下限判定;Pass / Fail 判定。

數據記錄、分析與匯出

CSV 匯出;Microsoft Excel 記錄;手動掃描;.csv 檔案;數據保存;後續分析;品管紀錄。

多組感測器應用

多點量測;多組探頭;不同阻抗範圍;多材料應用;製程條件比較。

使用者可調整參數

標準片校正;Vertical offset;Tare offset;Gain offset;Pass / Fail 閾值;警報設定;溫度補償係數。

自動化輔助功能

自動歸零;自動樣品感應檢測;自動量測數據記錄;資料流程建立;製程監控;品管分析。

導入提醒:若需要將 Delcom S3 量測資料串接至內部資料庫、MES、SPC、報表系統或自動化設備,建議先確認資料格式、通訊方式、感測器數量、量測節拍、Pass / Fail 判定規則與現場 IT / OT 架構,並由工程師進一步評估開發。


Sensor Configuration

Delcom S3 感測器範圍、Python 介面與選配量測配置

Delcom S3 Hybrid 可依材料電阻範圍、資料介面、樣品厚度與量測流程,評估感測器範圍擴充、Python 函式庫整合、客製化感測器間距,以及測試平台、真空應用感測器等選配配置。實際配置仍需依樣品材料、導電層位置、預估 ohm/sq 範圍、量測距離與現場檢測流程確認。

增加感測器量測範圍

Delcom 感測器出貨時可搭配任意兩個相鄰範圍,若需涵蓋更完整的量測區間,可依材料阻抗條件評估額外感測器配置。

×10:5–100,000 ohm/sq
×1:0.5–10,000 ohm/sq
÷10:0.05–1,000 ohm/sq
÷100:0.005–100 ohm/sq

Python 函式庫自訂介面

可使用 Delcom Python 函式庫構建自訂介面,讓感測器監控、量測控制與資料處理依客戶流程進行規劃。若需串接內部系統或自動化流程,建議由工程師評估資料格式與開發需求。

客製化感測器間距與量測尺寸

可依樣品厚度、導電層位置與量測需求,評估客製化感測器間距與量測尺寸。一般而言,所需間距越大,感測器量測尺寸也可能相對增加,實際配置需依樣品條件確認。

選配增加額外感測器

IM100 介面模組可依需求評估額外感測器配置,用於更大的量測範圍、較大或較小的感測器間距,或不同形狀與尺寸的感測器選擇。

Delcom S3 IM100 介面模組與額外感測器配置,適用非接觸式表面電阻量測範圍擴充

選配測試平台

可依需求選配測試平台,協助材料以合適高度進入感測器量測位置,並方便調整材料的 X、Y 位置。是否需要平台仍需依樣品尺寸、厚度與量測流程確認。

Delcom S3 選配測試平台,適用樣品位置調整與非接觸式表面電阻量測

選配真空應用感測器

若應用環境包含真空或特殊設備條件,可依實際需求評估真空應用感測器。相關配置需依安裝空間、樣品條件、量測距離與設備環境進一步確認。

Delcom S3 選配真空應用感測器,適用特殊環境非接觸式表面電阻量測評估

選型提醒:若 Delcom S3 需搭配額外感測器、測試平台、真空應用感測器或 Python 自訂介面,建議先提供樣品材料、厚度、導電層位置、預估 ohm/sq 範圍、是否為動態樣品、資料輸出需求與現場安裝條件,再評估合適的感測器範圍與選配配置。


Video

Delcom S3 Hybrid 操作與應用影片

以下影片可作為 Delcom S3 Hybrid 非接觸式表面電阻量測系統的操作與應用參考。實際導入仍需依樣品條件、感測器配置、量測目的與品管流程確認。

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