CMT-SR3000 series｜半自動導電薄膜四點探針量測系統
AiT CMT-SR3000 series 是針對 FPD、Glass、Thin Film、面板、觸控與材料產業設計的半自動導電薄膜四點探針量測系統，可用於玻璃、薄膜、ITO、TCO、導電膜與相關材料的表面電阻、片電阻與電阻率量測。系統可搭配 JANDEL 四點探針頭與 Mapping 分析軟體，以 2D 等高線圖或 3D 圖面呈現量測分佈，協助研發、製程監控與品管分析。實際選型仍需依樣品尺寸、材料結構、電阻範圍、量測點位、平台尺寸與資料分析需求確認。
Key Features
CMT-SR3000 series 玻璃與導電薄膜表面電阻量測應用
CMT-SR3000 series 可應用於玻璃、薄膜、ITO、TCO、導電膜、觸控面板與 FPD 相關材料的表面電阻、片電阻與電阻率量測，適合研發、製程監控、來料檢驗與品管分析。實際導入仍需依樣品尺寸、材料結構、電阻範圍、量測點位與分析需求確認。
01
玻璃與薄膜表面電阻量測
適合玻璃基板、導電薄膜、透明導電膜、ITO / TCO 與面板相關材料的表面電阻檢測，可作為製程均勻性與電性品質分析方向。
02
多種量測單位顯示
表面電阻量測結果可依需求顯示 ohm、ohm/sq、ohm・cm 與 S 等單位，方便不同導電材料、薄膜結構與製程條件下的資料判讀。
03
單機操作與電腦軟體控制
可依現場使用情境選擇單機操作，或搭配電腦軟體進行量測控制、資料整理、分析圖輸出與後續品管紀錄。
04
2D / 3D 分析圖面呈現
分析軟體可依量測資料產生 2D 等高線圖或 3D 繪製圖面，協助觀察玻璃、薄膜或導電膜不同位置的電阻分佈與均勻性。
05
JANDEL 探針頭配置
使用 JANDEL 探針頭，可作為接觸式四點探針表面電阻量測的關鍵配置。實際量測條件仍需依樣品表面狀態、接觸條件與量測流程確認。
選型提醒：若需求包含玻璃、薄膜、ITO、TCO 或導電膜的表面電阻量測、片電阻分佈、2D / 3D mapping 或製程均勻性分析，建議先確認樣品尺寸、預估電阻範圍、量測點位、平台尺寸、資料輸出格式與內部品管流程。
Specification
CMT-SR3000 series 導電薄膜表面電阻量測規格
以下規格可作為玻璃、薄膜、ITO、TCO、導電膜與 FPD 相關材料表面電阻量測的初步參考。實際量測條件仍需依樣品尺寸、材料結構、電阻範圍、平台尺寸、量測點位與分析需求確認。
| 規格項目 | CMT-SR3000 series 規格說明 |
|---|---|
| 量測範圍 | 1m ohm/sq–2M ohm/sq |
| 操作方式 | 操作者將樣品放置於測試平台後，透過軟體執行量測流程。 |
| JANDEL 四點探針探頭 | 採用 JANDEL 設計的快速安裝接頭／轉換器探頭，無需特殊工具或對準器具，可在短時間內完成安裝；全機標準配置 JANDEL 探頭。 |
| 量測數據顯示 | 量測數據可直接顯示於設備主機面板上。 |
| 量測速度 | 約 3 ± 1 秒／點 |
| 內部元件精度 | ±0.5%（高精度電阻） |
| 維護與服務 | 採用微處理器技術，電子元件安裝於便於更換的印刷電路板上，便於後續維護與服務評估。 |
| 多樣尺寸選擇 | 500 × 500 mm（S）、620 × 720 mm（M）、1100 × 1300 mm（L）、Customer size（C） |
備註：上述資料為產品規格參考，實際量測表現仍需依玻璃或薄膜表面狀態、接觸條件、探針配置、平台尺寸、Mapping 需求、量測環境與資料分析方式確認。