半自動 導電薄膜四點探針量測系統 (FPD/Glass/ThinFilm)
半自動 導電薄膜四點探針量測系統 (FPD/Glass/ThinFilm)

半自動 導電薄膜四點探針量測系統 (FPD/Glass/ThinFilm)

支點所代理的 AiT 導電薄膜四點探針量測系統 是針對面板/觸控/材料產業所設計, 半自動的大尺寸平台,搭配英國Jandel高穩定探頭,充分發揮CMT-SR3000S在表面電阻(ohm/sq)上量測的高精度表現。多功能Mapping軟體,讓均勻性分析如虎添翼。量測平台尺寸可客製化設計, 更符合您所需的測試條件。

・應用於玻璃, 薄膜等產品的表面電阻量測。

・表面電阻量測單位顯示(ohm, ohm/sq, ohm・cm & S)

・可單機操作或使用電腦軟體控制

・多樣化的分析軟體(以2-D等高線圖/3-D繪製圖面呈現)

・使用高精度JANDEL探針頭


量測範圍

1m ohm/sq~2M ohm/sq

操作方式

操作者只要簡單的將樣品放置測試平台上並執行軟體即可量測

JANDEL 四點探針探頭

採JANDEL所設計的快速安裝接頭/轉換器的探頭, 無需特殊工具或對準器具, 在幾分鐘內就可以安裝完成且全機標準配置JANDEL探頭。

量測數據的顯示

量測數據直接顯示於設備主機面板上

量測速度

約3±1秒/點

內部元件精度

±0.5%(高精度電阻)

維護以及服務

採用最先進的微處理器技術，達到無故障操作和高度可靠性。 將所有電子元件都安裝在易於更換的印刷電路板上

多樣尺寸選擇

500X500(S), 620X720(M), 1100X1300(L), Customer size(C)

 

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