Delcom 線上型非接觸式表面電阻量測系統

Inline Instruments

Delcom 線上型非接觸式表面電阻量測系統

Delcom Inline Instruments 是針對製程端材料電性監控所規劃的線上型非接觸式表面電阻量測系列,可依產線條件評估 OEM 客製化量測模組、線上型多點量測系統與線上型可移動多點量測系統等配置方向。

製程中即時監控

適合需要在卷對卷、玻璃、面板、晶圓、鍍膜材料或其他連續製程中,追蹤片電阻、片導電率、電阻率、厚度或發射率變化的應用。

多種線上型配置

可依需求評估 OEM 客製化量測模組、多點固定式量測,或可移動多點量測架構。實際配置需依產線寬度、量測點數、材料移動方式與安裝空間確認。

資料串接與系統整合

可依需求評估 Delcom 軟體、MODBUS/TCP 或 Python 介面,協助製程資料監控、遠端控制與品質追蹤。若需串接 MES、SPC 或自動化設備,建議由工程師進一步評估。

選型提醒:線上型非接觸式表面電阻量測需先確認材料種類、基材厚度、導電層位置、預估 ohm/sq 範圍、線速、幅寬、量測點數、感測器安裝空間、通訊介面與資料紀錄需求。實際選型仍需依樣品條件、檢測目的與現場製程流程確認。

Delcom OEM 客製化非接觸式表面電阻量測模組,適用設備整合、製程監控、片電阻與導電材料量測

Delcom OEM 客製化量測模組可依現場設備與產線條件進行整合,適合需要將非接觸式表面電阻量測導入設備、製程或自動化系統的應用。系統可由上、下感測器、控制盒與 IM110 介面模組組成,並可依需求評估感測器數量、位置、間距、量測尺寸與量測範圍。可量測片電阻、片電導率、電阻率、厚度與發射率,並可透過 Delcom 軟體、MODBUS/TCP 或 Python 函式庫進行遠端監控與控制。實際配置仍需依材料厚度、導電層位置、產線空間、量測速度、資料輸出與現場 IT / OT 架構確認。

Delcom 線上型多點非接觸式表面電阻量測系統,適用卷對卷、玻璃、面板、晶圓與鍍膜材料製程監控

Delcom 線上型多點量測系統是用於製程中非接觸式表面電阻監控的 Inline Instruments,可依產線需求配置感測器數量、感測器位置、感測器間距、量測點大小與量測範圍。系統適合卷對卷 roll to roll、玻璃、面板、晶圓與鍍膜材料等製程穩定性監控,並可用於真空、濕式、乾式等製程中的一致性量測評估。可量測片電阻、片導電率、電阻率、厚度與發射率,並可透過 Delcom 軟體、MODBUS/TCP 或 Python 進行遠端監控與控制。實際導入仍需依產線寬度、材料厚度、導電層位置、預估 ohm/sq 範圍、量測速度、量測點數與資料輸出需求確認。

Delcom 線上型非接觸式表面電阻量測系統,適用卷對卷、玻璃、面板、晶圓與鍍膜材料製程監控

Delcom 線上型非接觸式表面電阻量測系統適合需要在製程中進行材料電性監控的應用,可依產線條件評估 OEM 客製化量測模組、線上型多點量測系統與線上型可移動多點量測系統等配置方向。此系列可作為卷對卷、玻璃、面板、晶圓、鍍膜材料與多點製程監控的初步評估方向,實際導入仍需依材料厚度、導電層位置、預估 ohm/sq 範圍、量測點數、線速、感測器安裝空間與資料輸出需求確認。

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