LS152 鍍膜厚度監控
LS152 鍍膜厚度監控
以穿透率 T% 與光密度 OD 監控鍍膜厚度與製程均勻性
LS152 真空鍍膜線上測厚儀主要透過材料的光學穿透率 T% 與光密度 OD 變化，評估鍍層厚度與製程均勻性。當材料的透光特性與鍍層厚度具有可建立的對應關係時，可將 LS152 作為真空鍍膜、卷對卷鍍膜、玻璃鍍膜與隔熱紙生產線的線上品質監控方案。
LS152 的定位不是一般桌上型穿透率量測儀，而是可整合於產線的線上監控系統。適合需要即時掌握穿透率、光密度、鍍膜均勻性與製程變化的應用；實際導入仍需依材料透光特性、鍍膜製程、測點位置、設備空間、通訊介面與控制邏輯確認。
穿透率／光密度線上監控
可監測光穿透率 T% 與光密度 OD，適合用於評估鍍膜厚度變化、批次穩定性與製程均勻性。
非接觸式光學量測
採光學非接觸式量測方式，適合不希望量測頭直接接觸材料表面的薄膜、玻璃或鍍膜製程；實際安裝仍需依產線空間確認。
RS485／MODBUS 通訊
可透過 RS485 介面與 MODBUS 通訊協定，依鍍膜機、PLC 或上位系統需求進行資料讀取與系統整合評估。
模組化測點設計
模組化架構可依產線寬度、監測區域與測點數量進行配置，單點維護與後續調整也較具彈性。
適合鍍膜製程應用
可應用於卷對卷真空鍍膜機、玻璃鍍膜生產線、隔熱紙生產線與可透光薄膜材料的製程監控。
上下限警示與製程管控
可依品管條件設定上下限警示，協助現場人員即時掌握異常趨勢；若需閉環控制，建議由工程師依設備通訊與控制邏輯評估。
LS152 適合可透光且穿透率或光密度變化能對應製程品質的材料。導入前建議先確認材料種類、鍍膜厚度與穿透率關係、測點數量、產線速度、通訊介面、PLC 或 HMI 整合方式，以及是否需要警示或閉環控制。涉及產線整合、資料擷取、PLC 控制或即時告警時，建議由工程師依現場條件評估開發。
聯繫支點科技確認導入需求| 產品型號 | LS152 鍍膜厚度監控／真空鍍膜線上測厚儀 |
|---|---|
| 測試波長 | 850nm 紅外線，530nm 綠光可選配 |
| 測量光斑 | 5mm 圓形 |
| 透過率測量精度 | 優於 ±1%（無色均勻透光物質） |
| 透過率解析度 | 0.005% |
| 光密度測量範圍 | 0.00 OD–5.00 OD |
| 光密度解析度 | 0.01 OD：0.00–3.00 OD；0.05 OD：3.00–5.00 OD |
| 最大測量點數 | 45 點 |
| 相鄰探頭之間距離 | 最小 35mm |
| 光源探頭與接收探頭距離 | 20mm |
| 工作溫度 | -10℃–60℃ |
| 儲存溫度 | -20℃–70℃ |
| 相對濕度 | < 85%，不結露 |
| 數據刷新週期 | 普通模式 300ms／快速模式 100ms |
| 通訊介面 | 雙路 RS485 |
| 通訊協定 | 支援標準 MODBUS 協定 |
| 儀器尺寸 | 長度可依需求客製 × 寬 80mm × 高 180mm |
| 真空法蘭電極芯數 | 6 根（不搭配電腦監控）；9 根（搭配電腦監控） |
| 電源 | AC 220V，0.2A，50Hz |
| 備註 | LS152 適合真空鍍膜、卷對卷鍍膜、玻璃鍍膜、隔熱紙與可透光薄膜材料的穿透率 T% 與光密度 OD 線上監控。產品規格與客製配置如有更新，建議以原廠或支點科技確認資料為準；實際導入仍需依材料透光特性、鍍膜製程、測點數量、設備空間、通訊介面與控制邏輯確認。 |
LS152 產品介紹影片
真空鍍膜線上測厚與穿透率 OD 監控介紹
透過影片可初步了解 LS152 真空鍍膜線上測厚儀的應用方式。LS152 可用於可透光材料的穿透率 T% 與光密度 OD 線上監控，適合真空鍍膜、卷對卷鍍膜、玻璃鍍膜與隔熱紙生產線評估使用。
LS152 結構組成介紹
線上測厚系統結構與測點配置說明
本影片可協助了解 LS152 的基本結構、光源端與接收端配置，以及多點線上監控的導入概念。實際測點數量、探頭距離與安裝方式仍需依產線寬度、設備空間與材料特性確認。
LS152 液體穿透率線上檢測
可透光樣品穿透率監控應用示範
LS152 可依樣品條件評估用於可透光材料或液體樣品的穿透率監控。若應用於液體或特殊材料，需先確認樣品透明度、流動狀態、容器厚度、光路配置與製程環境是否適合導入。
LS152 實際操作影片
線上鍍膜監控操作流程示範
透過操作影片可初步了解 LS152 的現場操作與資料查看方式。若需與鍍膜機、PLC、HMI 或上位系統整合，建議依通訊協定、控制邏輯與現場安全流程由工程師評估導入方式。