CMT-SR2000N-PV｜半自動 Solar PV 四點探針量測系統
AiT CMT-SR2000N-PV 是半自動 Solar PV 四點探針量測系統，適用於太陽能電池與 Solar Cell 156 × 156 mm 樣品的表面電阻與體積電阻量測。系統搭配 JANDEL 探針頭，可依需求進行 ohm、ohm/sq、ohm・cm 與 S 等單位顯示，並可搭配分析軟體以 2D 等高線圖或 3D 圖面呈現量測分佈，協助太陽能材料研發、製程監控與品管分析。實際選型仍需依樣品尺寸、電阻範圍、量測點位、Mapping 需求與品管流程確認。
Key Features
CMT-SR2000N-PV 太陽能電池表面電阻量測應用
CMT-SR2000N-PV 可應用於太陽能產業的表面電阻、片電阻與體積電阻量測，適合 Solar Cell 156 × 156 mm 樣品的研發、製程監控與品管分析。實際導入仍需依樣品尺寸、材料結構、電阻範圍、量測點位與分析需求確認。
01
支援 Solar Cell 156 × 156 mm
適合太陽能電池樣品表面電阻量測，可作為 156 × 156 mm Solar Cell 製程均勻性與電性品質檢測的設備方向。
02
多種量測單位顯示
表面電阻量測結果可依需求顯示 ohm、ohm/sq、ohm・cm 與 S 等單位，方便太陽能材料與製程資料判讀。
03
單機操作與電腦軟體控制
可依現場使用情境選擇單機操作，或透過電腦軟體進行量測控制、資料整理與後續分析。
04
2D / 3D 分析圖面呈現
分析軟體可依量測資料產生 2D 等高線圖或 3D 繪製圖面，協助觀察 Solar Cell 不同位置的電阻分佈與均勻性。
05
JANDEL 探針頭配置
使用 JANDEL 探針頭，可作為接觸式四點探針表面電阻量測的關鍵配置。實際量測條件仍需依樣品表面狀態與量測流程確認。
選型提醒：若需求包含太陽能電池 156 × 156 mm 樣品的表面電阻量測、片電阻分佈、2D / 3D mapping 或製程均勻性分析，建議先確認樣品尺寸、預估電阻範圍、量測點位、資料輸出格式與內部品管流程。
Specification
CMT-SR2000N-PV 表面電阻量測規格
以下規格可作為 Solar Cell 156 × 156 mm 太陽能電池表面電阻、片電阻與體積電阻量測的初步參考。實際量測條件仍需依樣品尺寸、材料結構、電阻範圍、量測點位與品管流程確認。
| 規格項目 | CMT-SR2000N-PV 規格說明 |
|---|---|
| 量測範圍 | 1m ohm/sq–2M ohm/sq |
| 操作方式 | 操作者將樣品放置於測試平台後按壓量測鍵，系統可自動調整量測範圍，並顯示讀值、小數點與乘數。 |
| JANDEL 四點探針探頭 | 採用 JANDEL 設計的快速安裝接頭／轉換器探頭，無需特殊工具或對準治具，可在短時間內完成安裝；全機標準配置 JANDEL 探頭。 |
| 量測數據顯示 | 量測數據可直接顯示於設備主機面板上。 |
| 量測速度 | 約 2 ± 1 秒／點 |
| 內部元件精度 | ±0.5%（高精度電阻） |
| 維護與服務 | 採用微處理器技術，電子元件安裝於便於更換的印刷電路板上，便於後續維護與服務評估。 |
備註：上述資料為產品規格參考，實際量測表現仍需依太陽能電池表面狀態、接觸條件、探針配置、量測環境、Mapping 需求與資料分析方式確認。