非接觸式表面電阻量測
支點科技所代理的美國Delcom 非接觸式電阻量測 系統採用最先進的渦電流量測技術,打破傳統渦電流量測的範圍侷限以及非線性以及造成的重複性不佳等問題, Delcom以創新的技術超越貝爾實驗室的渦電流量測基礎理論。因此與同類產品和技術相比，Delcom可提供更穩定的讀數,更大的量測範圍,更高的精準度和精確度。
Delcom的S3 非接觸式表面電阻量測系統 採用非破壞式的渦電流技術,透過測量線圈中阻抗的變化來測量待測物的表面電阻。是一種快速且精準的量測法。在樣品無法使用四點探針量測的情況下,無論是半導體,面板,太陽能,材料,等相關應用的量測,絕對是您量測表面電阻的最佳利器。量測,您有更好的選擇。
支點科技所代理的 Delcom 20J3 非接觸式表面電阻 量測模組,採用非破壞式渦電流技術,透過測量線圈中阻抗的變化來測量待測物的表面電阻。是一種快速且精準的量測法。在樣品無法使用四點探針量測且動態狀況下, 無論是半導體,面板,太陽能,材料,等相關應用的量測,絕對是您量測表面電阻的最佳利器。量測,您有更好的選擇。
Delcom的30C9 非接觸式表面電阻量測系統 採用非破壞式的渦電流技術,透過測量線圈中阻抗的變化來測量待測物的表面電阻。是一種快速且精準的量測法。在樣品無法使用四點探針量測的情況下,無論是半導體,面板,太陽能,材料,等相關應用的量測,絕對是您量測表面電阻的最佳利器。量測,您有更好的選擇。
支點科技所代理的 Delcom線上小間距非接觸式表面電阻 量測模組,採用非破壞式渦電流技術,透過測量線圈中阻抗的變化來測量待測物的表面電阻。是一種快速且精準的量測法。在樣品無法使用四點探針量測且動態狀況下, 無論是半導體,面板,太陽能,材料,等相關應用的量測,絕對是您量測表面電阻的最佳利器。量測,您有更好的選擇。
支點科技所代理的 Delcom大間距非接觸式表面電阻 量測模組,採用非破壞式渦電流技術,透過測量線圈中阻抗的變化來測量待測物的表面電阻。是一種快速且精準的量測法。在樣品無法使用四點探針量測且動態狀況下, 無論是半導體,面板,太陽能,材料,等相關應用的量測,絕對是您量測表面電阻的最佳利器。量測,您有更好的選擇。