桌上型與線上綜合型(Benchtop & Inline Hybrid)

Delcom的S3 非接觸式表面電阻量測系統 採用非破壞式的渦電流技術,透過測量線圈中阻抗的變化來測量待測物的表面電阻。是一種快速且精準的量測法。在樣品無法使用四點探針量測的情況下,無論是半導體,面板,太陽能,材料,等相關應用的量測,絕對是您量測表面電阻的最佳利器。量測,您有更好的選擇。

支點科技所代理的 Delcom 20J3 非接觸式表面電阻 量測模組,採用非破壞式渦電流技術,透過測量線圈中阻抗的變化來測量待測物的表面電阻。是一種快速且精準的量測法。在樣品無法使用四點探針量測且動態狀況下, 無論是半導體,面板,太陽能,材料,等相關應用的量測,絕對是您量測表面電阻的最佳利器。量測,您有更好的選擇。

Delcom的30C9 非接觸式表面電阻量測系統 採用非破壞式的渦電流技術,透過測量線圈中阻抗的變化來測量待測物的表面電阻。是一種快速且精準的量測法。在樣品無法使用四點探針量測的情況下,無論是半導體,面板,太陽能,材料,等相關應用的量測,絕對是您量測表面電阻的最佳利器。量測,您有更好的選擇。