Delcom 桌上型與線上綜合型非接觸式表面電阻量測系統
Delcom 桌上型與線上綜合型非接觸式表面電阻量測系統
Delcom 桌上型與線上綜合型非接觸式表面電阻量測系統，適合需要在實驗室測試、品管檢查、設備整合與製程導入之間彈性評估的材料電性量測需求。此分類可依樣品條件、量測方式、安裝空間、資料輸出與是否需整合產線，初步評估 S3、20J3、30C9 等機型方向。
Delcom S3
適合材料研發、樣品測試、品管檢查與製程導入前評估，可作為手持、桌上型測試與現場應用之間的非接觸式表面電阻量測方向。實際仍需依樣品尺寸、厚度、導電層位置與量測目的確認。
查看 S3 產品資訊Delcom 20J3
適合需要模組化整合、治具搭配或設備端導入的應用情境。若需求包含固定量測位置、設備內部安裝或特定資料輸出流程，可依安裝空間、感測器位置與量測距離評估 20J3。
查看 20J3 產品資訊Delcom 30C9
可作為動態樣品、連續材料或製程端量測評估方向，適合需要較高整合彈性、製程監控或連續材料檢測的非接觸式表面電阻應用。實際導入需確認產線速度、安裝空間與通訊需求。
查看 30C9 產品資訊可應用於導電薄膜、ITO、TCO、半導體、面板、太陽能材料與相關鍍膜材料的表面電阻量測。實際選型仍需依樣品材料、厚度、導電層位置、預估 ohm/sq 範圍、量測方式與是否需整合設備或資料系統確認。若需先理解片電阻與 ohm/sq，可延伸閱讀 什麼是表面電阻 Rs（Sheet Resistance）。
Delcom S3 Hybrid 非接觸式表面電阻量測系統採用渦電流量測方式，可用於表面電阻、表面電導率、體積電阻率、厚度與發射率等材料電性量測需求。S3 適合需要在桌上型測試、樣品驗證與製程導入評估之間取得彈性的應用情境，可應用於半導體、面板、太陽能材料、導電薄膜、ITO、TCO、玻璃鍍膜與多層結構材料等檢測方向。實際選型仍需依樣品厚度、導電層位置、表面狀態、預估 ohm/sq 範圍與檢測流程確認。官網目前列出 S3 Hybrid 可量測表面電阻、表面電導率、體積電阻率、厚度與使用者定義發射率等資料類型。
Delcom 20J3 Hybrid 非接觸式表面電阻量測模組採用渦電流量測方式，可作為樣品測試、設備整合、治具搭配與製程端量測評估方向。產品頁資料列出 20J3 Hybrid 可量測表面電阻、表面電導率、體積電阻率、厚度與使用者定義發射率，感測器形式為 C 型感測器，並可選配量測平台。實際選型仍需依樣品厚度、導電層位置、表面狀態、預估 ohm/sq 範圍、量測距離與檢測流程確認。
Delcom 30C9 Hybrid 非接觸式表面電阻量測系統採用渦電流量測方式，可作為桌上型、檢測站或線上型製程整合的材料電性量測方向。30C9 採用較大的 9 mm 感測器間距，適合較厚材料，例如玻璃、鍍膜材料與多層結構材料等應用評估。產品頁資料列出 30C9 Hybrid 可量測表面電阻、表面電導率、體積電阻率、厚度與使用者定義發射率，並可透過按鈕操作、Delcom 軟體、Python library 或 MODBUS/TCP 介面使用。實際選型仍需依樣品厚度、導電層位置、表面狀態、預估 ohm/sq 範圍、量測距離與製程整合需求確認。