CMT-100MP｜手持式四點探針表面電阻量測設備
CMT-100MP 是手持式四點探針表面電阻量測設備，可作為薄膜、玻璃、導電材料、ITO / TCO、太陽能材料、晶圓切片、鍍膜樣品與研發材料的表面電阻、片電阻或電阻率快速檢測方向。相較平台式四點探針系統，CMT-100MP 更適合現場快速確認、樣品初步篩選、來料檢驗與不便放置於平台的大型或局部區域量測。實際選型仍需依樣品尺寸、表面狀態、電阻範圍、探針接觸條件與檢測目的確認。
Key Features
CMT-100MP 手持式四點探針薄層電阻量測應用
CMT-100MP 可應用於晶片、薄膜、太陽能電池、導電膜、ITO / TCO 與研發樣品的薄層電阻、表面電阻與片電阻量測，適合現場快速確認、來料檢驗、小尺寸樣品測試與局部區域量測。實際導入仍需依樣品尺寸、表面狀態、電阻範圍、探針接觸條件與檢測目的確認。
01
晶片、薄膜與太陽能電池量測
可用於晶片、薄膜、太陽能電池等薄層材料的表面電阻與片電阻量測，適合研發測試、製程確認與現場快速檢查。
02
多種量測單位顯示
表面電阻量測結果可依需求顯示 ohm、ohm/sq、ohm・cm 與 S 等單位，方便不同材料與檢測目的下的資料判讀。
03
手動控制桿中心單點量測
透過手動控制桿向下接觸樣品中心 1 點進行量測，操作方式直覺，適合現場快速確認與小批量樣品檢查。
04
JANDEL 探針頭配置
使用 JANDEL 探針頭，可作為接觸式四點探針表面電阻量測的關鍵配置。實際量測條件仍需依樣品表面狀態、接觸穩定性與量測流程確認。
選型提醒：CMT-100MP 較適合手持式或半手動中心單點量測需求；若需要固定平台、自動下壓、多點 Mapping、2D / 3D 分析或大尺寸樣品量測，建議依樣品尺寸與資料分析需求評估其他 AiT 四點探針系列設備。
Specification
CMT-100MP 手持式四點探針表面電阻量測規格
以下規格可作為晶片、薄膜、太陽能電池、導電膜與研發樣品薄層電阻、表面電阻與片電阻量測的初步參考。實際量測條件仍需依樣品尺寸、表面狀態、電阻範圍、探針接觸條件與檢測目的確認。
| 規格項目 | CMT-100MP 規格說明 |
|---|---|
| 量測範圍 | 1m ohm/sq–2M ohm/sq |
| 操作方式 | 操作者將樣品放置於測試平台後按壓量測鍵，系統可自動調整量測範圍，並顯示讀值、小數點與乘數。 |
| JANDEL 四點探針探頭 | 採用 JANDEL 設計的快速安裝接頭／轉換器探頭，無需特殊工具或對準治具，可在短時間內完成安裝；全機標準配置 JANDEL 探頭。 |
| 量測數據顯示 | 量測數據可直接顯示於設備主機面板上。 |
| 量測速度 | 約 2 ± 1 秒／點 |
| 內部元件精度 | ±0.5%（高精度電阻） |
| 維護與服務 | 採用微處理器技術，電子元件安裝於便於更換的印刷電路板上，便於後續維護與服務評估。 |
備註：上述資料為產品規格參考，實際量測表現仍需依樣品表面狀態、探針接觸穩定性、操作方式、量測環境與品管流程確認。