高低溫介電溫譜量測儀
VDMS-2000 高低溫介電溫譜量測儀
VDMS-2000 高低溫介電溫譜量測儀 適用於電介質、陶瓷、壓電、半導體及功能性材料的電性能研究。 設備可於常溫、高溫、低溫、真空與氣體條件下， 量測塊狀／片狀樣品的介電性能， 並分析介電常數、介電損耗、阻抗譜、 Cole-Cole 圖及機電耦合係數 Kp。
系統可依需求配置低溫液態氮傳輸系統， 適合研究材料電性隨溫度、頻率與環境條件的變化。 實際選型應依樣品型態、尺寸、厚度、 測試溫度範圍、低溫需求、氣氛條件、 頻率範圍與電極形式確認。
VDMS-2000 適合哪些材料與研究情境？
塊狀／片狀材料介電量測
可於常溫、高溫、低溫、真空與氣體條件下 量測塊狀或片狀樣品的介電性能， 適合電介質、陶瓷、壓電、 半導體及功能性材料研究。
介電常數與介電損耗
可量測介電常數與介電損耗， 協助比較材料在不同溫度、 頻率及氣氛條件下的介電特性。
阻抗譜與 Cole-Cole 圖
可進行阻抗譜及 Cole-Cole 圖分析， 協助研究材料極化、弛豫、 導電及界面相關電性行為。
低溫與液態氮測試
可依需求配置低溫液態氮傳輸系統， 適合研究材料在低溫條件下 介電性能及相關電性參數的變化。
VDMS-2000 主要特色
高溫與低溫介電量測
可於常溫、高溫及低溫條件下 進行材料介電性能研究， 適合需要寬溫度條件分析的應用。
真空與氣體環境
可依設備配置進行真空與氣體條件量測， 適合需要控制測試環境的材料研究。
多種電性參數量測
可量測阻抗 Z、電抗 X、導納 Y、 電導 G、電納 B、電感 L 及介電損耗 D 等物理量。
介電常數與介電損耗
可直接量測介電常數與介電損耗， 建立材料隨溫度及頻率變化的介電資料。
阻抗譜與 Cole-Cole 分析
支援阻抗譜與 Cole-Cole 圖分析， 可用於觀察材料極化、弛豫、 導電及界面效應。
機電耦合係數 Kp
可量測機電耦合係數 Kp， 適合壓電陶瓷與相關功能性材料研究。 實際測試條件需依樣品配置確認。
多種樣品夾具
可依需求選配單樣品夾具、 四樣品夾具、塊狀樣品夾具 及片狀樣品夾具， 以配合不同樣品與實驗流程。
溫度校正功能
具溫度校正功能， 可協助降低設定溫度與樣品實際溫度 差異對介電分析結果的影響。
PID 模糊運算溫控
採 PID 模糊運算控制， 具溫控、超溫保護、 一鍵設定與故障診斷功能。
低溫液態氮傳輸系統
可依需求配置低溫液態氮傳輸系統， 作為低溫量測與自動補充液態氮的應用方向。 實際配置依採購內容確認。
VDMS-2000、HDMS-1000 與 PAR-HTDS-500 怎麼選？
| 設備 | 主要定位 | 適合需求 |
|---|---|---|
| VDMS-2000 | 高低溫介電溫譜量測 | 需要高溫＋低溫，並可能包含真空、 氣體或液態氮低溫條件的材料研究 |
| HDMS-1000 | 高溫介電溫譜量測 | 以常溫、高溫、真空或氣體條件 介電性能研究為主要需求 |
| PAR-HTDS-500 | 研究型介電溫譜 | 以塊狀材料介電常數、介電損耗、 阻抗與溫度相關研究為主要需求 |
若主要量測目標是導電材料電阻率、 絕緣材料電阻率或片電阻， 則應改評估電阻率量測系統或四點探針設備。
VDMS-2000 選型前需要確認什麼？
樣品材料與型態
提供材料種類、塊狀或片狀形式、 尺寸、厚度及基本電性特性。
溫度範圍
確認預計測試的最低與最高溫度， 以及是否需要連續溫度掃描。
低溫需求
確認是否需要液態氮低溫測試， 以及預計的低溫實驗流程。
真空與氣體條件
確認是否需要真空、 特定氣體或其他環境控制條件。
樣品夾具
確認單樣品、多樣品、 塊狀或片狀樣品形式， 以評估適合的夾具配置。
量測參數
確認介電常數、介電損耗、 阻抗譜、Cole-Cole 圖、 Kp、頻率範圍及資料輸出需求。
相關半導體與材料電性量測
VDMS-2000 常見問題
VDMS-2000 適合量測哪些材料？
可評估電介質、陶瓷、壓電、 半導體及功能性材料， 並適用於塊狀／片狀樣品介電性能研究。 實際適用性仍需依樣品尺寸、 厚度、電極與測試條件確認。
VDMS-2000 可以量測哪些電性參數？
目前產品資料列有阻抗 Z、電抗 X、 導納 Y、電導 G、電納 B、 電感 L、介電損耗 D， 並可進行介電常數、阻抗譜、 Cole-Cole 圖及機電耦合係數 Kp 分析。
VDMS-2000 可以做低溫量測嗎？
可以依需求配置低溫液態氮傳輸系統， 用於低溫條件下的材料介電性能研究。 實際最低溫度與系統配置應依設備規格及採購內容確認。
VDMS-2000 和 HDMS-1000 最大差異是什麼？
VDMS-2000 的主要差異在於可進一步支援 低溫介電量測及液態氮相關配置； HDMS-1000 則以常溫、高溫、 真空與氣體條件的介電量測為主要方向。
VDMS-2000 可以取代四點探針嗎？
兩者主要量測目的不同。 若研究重點為介電常數、介電損耗、 阻抗譜與 Kp，可評估 VDMS-2000； 若主要目標為片電阻或電阻率， 應依材料條件評估四點探針或電阻率量測系統。
詢價 VDMS-2000 前需要提供哪些資訊？
建議提供樣品材質、型態、尺寸、 厚度、電極形式、目標量測參數、 最高與最低測試溫度、頻率範圍、 低溫需求、真空或氣體條件及資料輸出需求。
需要評估 VDMS-2000 高低溫介電溫譜量測儀？
提供樣品材質、尺寸、厚度、 電極形式、最高與最低測試溫度、 氣氛條件、頻率範圍及目標量測參數， 支點科技可協助確認適合的高低溫介電量測配置。
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